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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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顆粒圖像儀

顆粒圖像儀

  • 產品(pin)型號:ZKFT-1600
  • 更新時間:2023-11-19
  • 產品介紹:顆粒圖像儀
    產品特點:
    *出色的外觀設計,符合人機工程學的結構設計
    *機身一體化的設計,使產品長期保持優異穩定性能
    *優質的3WLED照明,穩定和超常使用壽命
    *無限遠色差校正光學系統,普通光學校正系統,可滿足不同用戶的需求
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹


顆粒圖像儀


通過專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行處理與分析,從而得到每一個顆粒的粒度和粒形信息,再將每一個顆粒的粒度和粒形信息進行統計,從而得到粒度(D50)及粒度分布、平均長徑比及長徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結果。

       ZKFT-1600直(zhi)觀、形象、準確特點(dian),它是將微米級(ji)以上(shang)的(de)顆(ke)粒(li)(li)放大(da)(da)幾十(shi)、數百乃至上(shang)千(qian)倍(bei),將整個顆(ke)粒(li)(li)形狀顯(xian)示在人(ren)們的(de)眼前,使人(ren)一(yi)(yi)目了(le)然。它不僅(jin)能看到顆(ke)粒(li)(li),還能通過(guo)(guo)“尺子"來量每(mei)一(yi)(yi)個顆(ke)粒(li)(li)的(de)大(da)(da)小,并通過(guo)(guo)圖像處理技術(shu)得到所有顆(ke)粒(li)(li)的(de)直(zhi)徑(jing),進而得到粒(li)(li)度分布、平均(jun)長徑(jing)比以及長徑(jing)比分布等。ZKFT-1600為(wei)粉體材(cai)料的(de)科研、生產和應用領(ling)域增添了(le)一(yi)(yi)種直(zhi)觀、簡便、準確的(de)粒(li)(li)度粒(li)(li)形測試手段。

       ZKFT-1600靜態(tai)圖(tu)像顆(ke)粒(li)(li)分析系(xi)統還(huan)具有(you)很多(duo)(duo)*圖(tu)像處理功能,包括(kuo)自動拍攝(she)、自動分割、自動填充、批處理多(duo)(duo)幅(fu)(fu)圖(tu)像、準(zhun)確性標定等(deng)。其中眾多(duo)(duo)的(de)(de)“自動"功能簡化了(le)操作,提高了(le)效率;批處理多(duo)(duo)幅(fu)(fu)圖(tu)像功能,*克服了(le)傳統的(de)(de)靜態(tai)圖(tu)像顆(ke)粒(li)(li)分析系(xi)統僅能分析單幅(fu)(fu)圖(tu)像,導(dao)致顆(ke)粒(li)(li)數太少,代表性不(bu)足,結果不(bu)準(zhun)確的(de)(de)問(wen)題(ti)。它可以拍攝(she)很多(duo)(duo)幅(fu)(fu)圖(tu)像,對些圖(tu)像一(yi)幅(fu)(fu)一(yi)幅(fu)(fu)地處理,每一(yi)幅(fu)(fu)處理過的(de)(de)圖(tu)像上的(de)(de)顆(ke)粒(li)(li)都匯集到一(yi)起,提高了(le)代表性

物鏡轉換向內四孔或五孔顆粒圖像儀

載物工作臺220X148mm低手(shou)位雙(shuang)層(ceng)X軸(zhou)鋼絲傳動機械移動平臺,

行程76X50mm,精(jing)度0.1mm,阻(zu)尼 式雙切片夾

調焦機構同(tong)軸粗微(wei)調焦機構(gou),微(wei)調格(ge)值(zhi)0.002mm

照明裝置3WLED燈亮度連續可調的柯勒照明系統











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