產品介紹

ZKFT-1600顆粒圖像處理儀

一、產品簡介

顆粒圖像處理儀 ZKFT-1600圖(tu)像(xiang)顆(ke)粒(li)(li)(li)分(fen)(fen)析儀包括光(guang)學顯(xian)(xian)微鏡(jing)、數(shu)字CCD攝像(xiang)頭(tou)、圖(tu)像(xiang)處(chu)理與分(fen)(fen)析軟件(jian)(jian)、電腦(nao)、打印機等部分(fen)(fen)組成(cheng)。它是(shi)將傳統的(de)(de)顯(xian)(xian)微測量方法(fa)與現代的(de)(de)圖(tu)像(xiang)處(chu)理技術結合的(de)(de)產(chan)物。它的(de)(de)基本工作流程是(shi)通過(guo)專用(yong)數(shu)字攝像(xiang)機將顯(xian)(xian)微鏡(jing)的(de)(de)圖(tu)像(xiang)拍攝下(xia)來并傳輸到(dao)電腦(nao)中(zhong)，通過(guo)專門的(de)(de)顆(ke)粒(li)(li)(li)圖(tu)像(xiang)分(fen)(fen)析軟件(jian)(jian)對顆(ke)粒(li)(li)(li)圖(tu)像(xiang)進(jin)行處(chu)理與分(fen)(fen)析，從而得到(dao)每一(yi)個顆(ke)粒(li)(li)(li)的(de)(de)粒(li)(li)(li)度和粒(li)(li)(li)形信息，再將每一(yi)個顆(ke)粒(li)(li)(li)的(de)(de)粒(li)(li)(li)度和粒(li)(li)(li)形信息進(jin)行統計(ji)，從而得到(dao)粒(li)(li)(li)度（D50）及粒(li)(li)(li)度分(fen)(fen)布(bu)、平均長徑比(bi)及長徑比(bi)分(fen)(fen)布(bu)、平均圓形度及圓形度分(fen)(fen)布(bu)等結果。

ZKFT-1600直觀、形象(xiang)、準(zhun)確(que)特點，它是將微米級以(yi)上的(de)顆(ke)粒(li)放大幾十(shi)、數百乃(nai)至上千倍，將整(zheng)個顆(ke)粒(li)形狀顯示在人(ren)們的(de)眼前，使(shi)人(ren)一(yi)目了然。它不僅能看到(dao)顆(ke)粒(li)，還(huan)能通過“尺子"來(lai)量每一(yi)個顆(ke)粒(li)的(de)大小，并通過圖像(xiang)處理技術得到(dao)所有顆(ke)粒(li)的(de)直徑，進而得到(dao)粒(li)度分布、平均長徑比(bi)以(yi)及(ji)長徑比(bi)分布等。ZKFT-1600為粉體材料的(de)科研、生產和應用領域增添了一(yi)種直觀、簡(jian)便、準(zhun)確(que)的(de)粒(li)度粒(li)形測試(shi)手(shou)段。

ZKFT-1600靜態(tai)圖(tu)像(xiang)(xiang)顆(ke)粒分析儀還具有很多(duo)圖(tu)像(xiang)(xiang)處理(li)(li)功能，包括自動(dong)(dong)拍攝、自動(dong)(dong)分割、自動(dong)(dong)填充、批(pi)處理(li)(li)多(duo)幅(fu)圖(tu)像(xiang)(xiang)、準確性標定等。其中眾多(duo)的“自動(dong)(dong)"功能簡化了(le)操(cao)作(zuo)，提(ti)高了(le)效率；批(pi)處理(li)(li)多(duo)幅(fu)圖(tu)像(xiang)(xiang)功能，克服了(le)傳統的靜態(tai)圖(tu)像(xiang)(xiang)顆(ke)粒分析儀僅能分析單幅(fu)圖(tu)像(xiang)(xiang)，導(dao)致顆(ke)粒數太少，代(dai)表(biao)性不足，結果不準確的問(wen)題。它可以拍攝很多(duo)幅(fu)圖(tu)像(xiang)(xiang)，對這些(xie)圖(tu)像(xiang)(xiang)一幅(fu)一幅(fu)地處理(li)(li)，每(mei)一幅(fu)處理(li)(li)過的圖(tu)像(xiang)(xiang)上的顆(ke)粒都匯集到一起，提(ti)高了(le)代(dai)表(biao)性。

二、產品特點:

*出(chu)色的外觀設(she)(she)計，符合(he)人機工程學的結(jie)構設(she)(she)計

*機身一體化(hua)的設計，使產(chan)品長期保(bao)持優異穩定性能(neng)

*優質的3WLED照明，穩(wen)定和超常使(shi)用壽命

*無限遠色(se)差校正光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統，普通(tong)光(guang)學(xue)校正系(xi)(xi)統，可(ke)滿足(zu)不同用戶的需求(qiu)

三、主要應用領(ling)域：（觀察(cha)粒形、分(fen)析粒度、監測大顆粒）

• 磨料(liao)：如碳化硅、剛玉、金剛石(shi)、石(shi)榴石(shi)等(deng)。

• 電池材料：球形石墨(mo)粉(fen)等。

• 金(jin)屬粉：如球形鋁粉、鉛(qian)錫(xi)合金(jin)粉、其它霧化金(jin)屬粉。

• 非金屬(shu)粉：如玻璃珠、聚(ju)苯乙(yi)烯等。

• 針狀(zhuang)粉：如硅灰石等。

• 生物制(zhi)劑：如細胞。

• 食品：如牛(niu)奶、面粉等。

• 其他(ta)：如科研、教學(xue)等。

四、測試原理

• 標定方(fang)法：用(yong)顯微(wei)(wei)鏡專用(yong)標準刻度尺直接標定每個(ge)像素的尺寸，再根(gen)據每個(ge)顆粒(li)圖像面積所占的像素多少來度量顆粒(li)的大小(xiao)，以(yi)微(wei)(wei)米為單位。

• 測試原(yuan)理：通(tong)過對(dui)顆粒(li)(li)數量和每個顆粒(li)(li)所包含的像(xiang)素(su)數量的統計(ji)，計(ji)算出每個顆粒(li)(li)的等(deng)圓面積和等(deng)球體積，從而得到(dao)顆粒(li)(li)的等(deng)圓面積直徑(jing)、等(deng)球體積直徑(jing)以及長徑(jing)比等(deng)。為計(ji)算方便，ZKFT-1600圖(tu)像(xiang)顆粒(li)(li)分析儀(yi)是以100個像(xiang)素(su)為一(yi)個計(ji)量單位的。