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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產(chan)品詳細頁
顆粒圖像分析儀

顆粒圖像分析儀

  • 產(chan)品型號:ZKFT-1600
  • 更新時間(jian):2023-11-19
  • 產品介紹(shao):顆粒圖像分析儀
    產品特點:
    *出色的外觀設計,符合人機工程學的結構設計
    *機身一體化的設計,使產品長期保持優異穩定性能
    *優質的3WLED照明,穩定和超常使用壽命
    *無限遠色差校正光學系統,普通光學校正系統,可滿足不同用戶的需求
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹


顆粒圖像分析儀

型(xing)號:ZKFT-1600


一、產品簡介

     ZKFT-1600圖像顆粒分析系統包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物。它的基本工作流程是通過專用數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來并傳輸到電腦中,通過專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行處理與分析,從而得到每一個顆粒的粒度和粒形信息,再將每一個顆粒的粒度和粒形信息進行統計,從而得到粒度(D50)及粒度分布、平均長徑比及長徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結果。顆粒圖像分析儀

       

四、測試原理

    • 標定方(fang)法:用顯(xian)微鏡專用標準刻度尺(chi)直接標定每個像素(su)的尺(chi)寸,再根據每個顆粒(li)圖(tu)像面(mian)積所占的像素(su)多(duo)少來度量(liang)顆粒(li)的大小(xiao),以微米為單位。

    • 測試(shi)原理(li):通過(guo)對顆(ke)(ke)粒(li)數(shu)量和每個(ge)顆(ke)(ke)粒(li)所包含的像(xiang)(xiang)素數(shu)量的統(tong)計,計算(suan)出每個(ge)顆(ke)(ke)粒(li)的等(deng)(deng)(deng)圓面(mian)積(ji)和等(deng)(deng)(deng)球(qiu)(qiu)體積(ji),從而得(de)到顆(ke)(ke)粒(li)的等(deng)(deng)(deng)圓面(mian)積(ji)直徑(jing)、等(deng)(deng)(deng)球(qiu)(qiu)體積(ji)直徑(jing)以及(ji)長徑(jing)比(bi)等(deng)(deng)(deng)。為計算(suan)方便,ZKFT-1600圖像(xiang)(xiang)顆(ke)(ke)粒(li)分析(xi)儀是以100個(ge)像(xiang)(xiang)素為一個(ge)計量單位的。

五、主要(yao)技術指標(biao)與性(xing)能

生物顯微鏡詳細介紹

光學系統

無限(xian)遠色差校(xiao)正(zheng)光(guang)學系統/普通光(guang)學校(xiao)正(zheng)系統

觀察

目鏡筒

鉸鏈式雙目頭(tou)或三目頭(tou),30°傾斜,瞳距50-75mm

阿貝式聚光鏡組

(可帶插板式(shi)的相襯,暗場,偏(pian)光附(fu)件接口)目鏡(jing)高眼(yan)點平場目鏡(jing)

物(wu)鏡平(ping)場消(xiao)色差平(ping)場消(xiao)色差物(wu)鏡4X,10X,40X,100X物(wu)鏡轉換向內四孔或(huo)五孔

載物工作臺220X148mm低手(shou)位雙層X軸鋼絲傳動機械移(yi)動平臺,行(xing)程76X50mm,精度(du)0.1mm,阻尼 式雙切片夾

調焦(jiao)機構同軸粗微(wei)調焦(jiao)機構,微(wei)調格值0.002mm

照明裝置3WLED燈亮度連續可調的柯勒照明系統成套性

序號名稱數量












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