產品介紹

GCSTD高低頻介電常數試驗儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量(liang)電氣絕緣材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高(gao)頻(pin)（包括(kuo)米波(bo)波(bo)長(chang)在內）下電容

率和介質損耗因數的(de)推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡(xiang)膠(jiao)介電常數和介質(zhi)損耗角正切值的測(ce)定方法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電絕緣材料的(de)（恒(heng)久電介質）的(de)交流損耗特性和介電常數

的測試方法

GCSTD高低頻介電常數試驗儀試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸(chu)法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極(ji)類(lei)型(xing)：固定(ding)電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm／φ50mm（標配(pei)(pei)電極(ji)1套，標配(pei)(pei)為38mm）

液體(ti)(ti)電極-液體(ti)(ti)容量15ml

粉體電極-根(gen)據樣(yang)品量可配專用電極

試樣類(lei)型：固體、液體、粉體、膏體／規則物或(huo)者不規則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電(dian)平10mV～5V，1mV步進(jin)

基本準確度0.1％

最高達200次／s的測量速度(du)

320x240點陣大型(xing)圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種阻(zu)抗(kang)參數(shu)組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏(pian)流源至(zhi)40A（配置(zhi)兩臺(tai)TH1776）（選(xuan)件）

電(dian)(dian)壓或電(dian)(dian)流的自動電(dian)(dian)平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測試(shi)信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部(bu)儀(yi)器設定可供儲存／讀(du)取

內建比較器，10檔分(fen)選及(ji)計(ji)數功(gong)能(neng)

多(duo)種通訊接口方(fang)便用戶聯機使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自(zi)動升級儀(yi)器工作程序(xu)

測試材料：

無源元(yuan)件：電容器、電感器、磁芯(xin)、電阻器、壓電器件、變壓器、芯(xin)片組件和網絡(luo)元(yuan)件

等的陽抗參(can)數評估(gu)和性能分析。

半導體元件：變容二極(ji)管的C-VDC特(te)性；晶體管或集成電路的寄生參(can)數分析

其它(ta)元件：印制電(dian)路(lu)板、繼電(dian)器(qi)、開關、電(dian)纜、電(dian)池(chi)等的阻抗評估

介質材料：塑料、陶瓷(ci)和(he)其它材料的介電常數(shu)和(he)損耗(hao)角評估

磁性(xing)材(cai)料：鐵(tie)氧體(ti)、非晶體(ti)和其它(ta)磁性(xing)材(cai)料的導(dao)磁率和損耗角評估(gu)

半導(dao)(dao)體材料(liao)：半導(dao)(dao)體材料(liao)的介電(dian)常數(shu)、導(dao)(dao)電(dian)率和C-V特性(xing)

液晶材料：液晶單元的(de)介電常(chang)數(shu)、彈性常(chang)數(shu)等(deng)C-V特(te)性