產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量(liang)電(dian)氣絕緣材料在(zai)(zai)工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長在(zai)(zai)內(nei)）下(xia)電(dian)容

率(lv)和介質(zhi)損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫(liu)化橡膠介電常(chang)數和(he)介質損耗角(jiao)正切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣(yuan)材料的（恒久電介(jie)質）的交流損(sun)耗特性和介(jie)電常(chang)數

的測試方法

高低頻介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸法(fa)：適(shi)用(yong)于厚度均(jun)勻、上(shang)下(xia)表(biao)面平(ping)整、光滑(hua)材料

非接(jie)觸(chu)法：適(shi)用于上下表面不平整、不光滑(hua)材料(liao)

電極類型：固定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配(pei)電極1套，標配(pei)為38mm）

液體(ti)電極(ji)-液體(ti)容(rong)量15ml

粉體電(dian)極-根(gen)據樣品量可配(pei)專用電(dian)極

試(shi)樣(yang)類(lei)型：固(gu)體(ti)(ti)(ti)、液(ye)體(ti)(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)(ti)、膏(gao)體(ti)(ti)(ti)／規(gui)則(ze)物或者不規(gui)則(ze)物

性能特點：

測試(shi)頻(pin)率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進(jin)

測(ce)試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最高達200次(ci)／s的測量速度

320x240點陣大型圖形LCD顯(xian)示

五位讀數分辨率

可(ke)測(ce)量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件(jian)）

電(dian)(dian)壓或電(dian)(dian)流的自動(dong)電(dian)(dian)平(ping)調整（ALC）功(gong)能

V、1測試信號電平監視功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設(she)定可(ke)供儲存／讀取

內建比較器，10檔分選及計數功能

多種(zhong)通訊接口方便(bian)用戶聯機使(shi)用

2m／4m測試(shi)電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器(qi)工(gong)作(zuo)程序

測試材料：

無源元(yuan)件：電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻(zu)器(qi)、壓(ya)電(dian)器(qi)件、變壓(ya)器(qi)、芯片組件和(he)網(wang)絡元(yuan)件

等的(de)陽抗參數評估和(he)性能分析。

半導體(ti)元件(jian)：變容二極管(guan)的C-VDC特性(xing)；晶體(ti)管(guan)或(huo)集成電路的寄生參數分析

其它元件(jian)：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的(de)阻抗評估(gu)

介(jie)質材料(liao)(liao)：塑料(liao)(liao)、陶瓷和其它(ta)材料(liao)(liao)的介(jie)電常數和損耗角(jiao)評估

磁(ci)(ci)性(xing)材(cai)(cai)料：鐵(tie)氧(yang)體(ti)、非晶體(ti)和(he)(he)其(qi)它(ta)磁(ci)(ci)性(xing)材(cai)(cai)料的導磁(ci)(ci)率和(he)(he)損耗角評估(gu)

半導體材料(liao)：半導體材料(liao)的介電(dian)常數、導電(dian)率和C-V特(te)性

液晶材料：液晶單元(yuan)的介電常數、彈(dan)性常數等C-V特性