產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數測定儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣(yuan)材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)（包括米(mi)波(bo)(bo)波(bo)(bo)長在內）下電容(rong)

率和介質損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠(jiao)介電常數和介質損(sun)耗(hao)角正切值(zhi)的(de)測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材(cai)料的（恒久電(dian)介質）的交流損耗(hao)特性(xing)和介電(dian)常數(shu)

的測試方法

高低頻介電常數測定儀GCSTD試驗方法：

接(jie)觸法：適用于(yu)厚度均勻、上下(xia)表面平整(zheng)、光滑材料

非接觸法(fa)：適用于上下(xia)表面不(bu)(bu)平整(zheng)、不(bu)(bu)光滑材料

電極類型：固(gu)定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為(wei)38mm）

液(ye)體電極-液(ye)體容量15ml

粉體電極-根據樣品量(liang)可配專用電極

試(shi)樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則(ze)物或者不規則(ze)物

性能特點：

測(ce)試頻率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測試(shi)電平10mV～5V，1mV步(bu)進

基本準確度0.1％

最高(gao)達(da)200次／s的測量速度

320x240點陣大型圖形LCD顯(xian)示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏(pian)流源(yuan)至40A（配(pei)置兩臺TH1776）（選(xuan)件(jian)）

電(dian)壓(ya)或電(dian)流的(de)自(zi)動電(dian)平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平(ping)監視(shi)功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部儀(yi)器(qi)設定(ding)可供儲(chu)存／讀取

內建(jian)比(bi)較器，10檔(dang)分選(xuan)及計數(shu)功能

多種通(tong)訊(xun)接口方便(bian)用戶聯機(ji)使用

2m／4m測試電纜(lan)擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升(sheng)級儀器工(gong)作程序

測試材料：

無源元(yuan)件：電(dian)(dian)容(rong)器(qi)、電(dian)(dian)感(gan)器(qi)、磁芯、電(dian)(dian)阻(zu)器(qi)、壓(ya)電(dian)(dian)器(qi)件、變壓(ya)器(qi)、芯片(pian)組件和網絡元(yuan)件

等(deng)的陽抗參數(shu)評估和性(xing)能分析。

半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參(can)數分析

其它元件：印制(zhi)電(dian)(dian)路(lu)板、繼(ji)電(dian)(dian)器、開關(guan)、電(dian)(dian)纜、電(dian)(dian)池等的阻抗評估(gu)

介質材(cai)料(liao)：塑料(liao)、陶(tao)瓷(ci)和其它材(cai)料(liao)的介電常數和損(sun)耗(hao)角評估

磁性材料：鐵(tie)氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評(ping)估

半(ban)(ban)導體材料：半(ban)(ban)導體材料的介(jie)電(dian)常數(shu)、導電(dian)率和C-V特(te)性

液(ye)晶(jing)材料：液(ye)晶(jing)單(dan)元的介電常(chang)數(shu)、彈性常(chang)數(shu)等C-V特性