產品介紹

GCSTD-D高低頻介電常數及介質損耗測試儀器

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電(dian)(dian)氣(qi)絕緣(yuan)材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高(gao)頻(pin)（包括米波波長在內）下電(dian)(dian)容

率和介質損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數(shu)和介質損耗角正切值的測定(ding)方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕(jue)緣(yuan)材料的（恒久電(dian)介(jie)質）的交流損耗(hao)特性和(he)介(jie)電(dian)常數

的測試方法

高低頻介電常數及介質損耗測試儀器試驗方法：

接觸(chu)法：適用于厚度均勻、上下(xia)表面平整(zheng)、光滑(hua)材料

非(fei)接觸法：適用(yong)于上下表面不平整(zheng)、不光滑(hua)材料(liao)

電極(ji)類型：固(gu)定電極(ji)-測量(liang)電極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電極(ji)1套，標配為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容(rong)量15ml

粉體電極-根據樣品量可配專用電極

試樣類(lei)型：固體(ti)(ti)(ti)、液體(ti)(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)(ti)、膏體(ti)(ti)(ti)／規則物(wu)或者(zhe)不規則物(wu)

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測(ce)試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最(zui)高(gao)達200次(ci)／s的測量速(su)度(du)

320x240點陣大型圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量(liang)22種阻抗參數組(zu)合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置(zhi)偏流源至40A（配置(zhi)兩(liang)臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的(de)自動電(dian)平調(diao)整(zheng)（ALC）功能

V、1測試信號電(dian)平監視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內部儀器(qi)設(she)定可供(gong)儲存／讀取

內建比較器，10檔(dang)分(fen)選及計數功能

多種通訊接口方便用(yong)戶(hu)聯機使用(yong)

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級儀(yi)器工作程序(xu)

測試材料：

無源元(yuan)件(jian)：電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)、壓電(dian)器(qi)件(jian)、變壓器(qi)、芯片組(zu)件(jian)和網(wang)絡元(yuan)件(jian)

等的(de)陽抗參數(shu)評估和性能分析。

半導體(ti)元件(jian)：變(bian)容二極管的C-VDC特性；晶體(ti)管或(huo)集成電路的寄生參數分(fen)析

其它元件：印制電(dian)路板、繼(ji)電(dian)器、開(kai)關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻(zu)抗評估

介(jie)質材(cai)料：塑料、陶瓷和其它材(cai)料的介(jie)電常數和損耗(hao)角評估

磁性材料：鐵(tie)氧體(ti)、非晶體(ti)和(he)其它磁性材料的導磁率(lv)和(he)損耗角(jiao)評估

半導(dao)(dao)體(ti)材料(liao)：半導(dao)(dao)體(ti)材料(liao)的介電常(chang)數、導(dao)(dao)電率和(he)C-V特性

液晶(jing)材料(liao)：液晶(jing)單元的(de)介電常數(shu)、彈性(xing)常數(shu)等C-V特性(xing)