產品介紹

GCSTD-D電容器高低頻介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕(jue)緣材(cai)料在工(gong)頻、音頻、高頻（包括米(mi)波波長在內(nei)）下電容

率和(he)介(jie)質(zhi)損耗因(yin)數的推薦方法(fa)

GB／T1693-2007硫化(hua)橡膠(jiao)介電常數和介質損耗(hao)角正切值的(de)測定方(fang)法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體(ti)電(dian)絕緣材料的（恒(heng)久電(dian)介質）的交流損耗特性和介電(dian)常數

的測試方法

電容器高低頻介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸法(fa)：適用于厚度均(jun)勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面不(bu)(bu)平整、不(bu)(bu)光滑材料

電(dian)(dian)極類型：固定電(dian)(dian)極-測量電(dian)(dian)極φ38mm／φ50mm（標配電(dian)(dian)極1套，標配為38mm）

液(ye)體電(dian)極-液(ye)體容量15ml

粉體電(dian)極(ji)-根(gen)據(ju)樣品(pin)量可(ke)配專用電(dian)極(ji)

試(shi)樣類型：固體(ti)(ti)(ti)、液體(ti)(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)(ti)、膏體(ti)(ti)(ti)／規則(ze)物(wu)或者不規則(ze)物(wu)

性能特點：

測試(shi)頻率(lv)20H2～2MHz，10mHz步進

測試(shi)電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最(zui)高達200次／s的測量(liang)速(su)度

320x240點陣大型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏(pian)流源至40A（配置兩(liang)臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的自(zi)動電(dian)平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能(neng)

圖形掃描分析功能

20組內部(bu)儀器(qi)設定可供儲(chu)存(cun)／讀取

內建(jian)比(bi)較器，10檔分(fen)選及計數(shu)功能

多種通訊接口方(fang)便用(yong)戶(hu)聯機(ji)使用(yong)

2m／4m測(ce)試電纜擴(kuo)展（選件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自(zi)動(dong)升級儀器工(gong)作程序

測試材料：

無源元件：電(dian)容器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁(ci)芯(xin)、電(dian)阻器(qi)、壓電(dian)器(qi)件、變壓器(qi)、芯(xin)片(pian)組件和網絡元件

等的陽抗參數評估和性能分析(xi)。

半導體元(yuan)件(jian)：變容(rong)二極管(guan)(guan)的C-VDC特性；晶體管(guan)(guan)或集成電路的寄生參數分析(xi)

其它元件：印制(zhi)電路(lu)板(ban)、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評(ping)估

介質材(cai)料(liao)(liao)：塑(su)料(liao)(liao)、陶瓷和(he)其它材(cai)料(liao)(liao)的介電常數(shu)和(he)損耗(hao)角評(ping)估

磁(ci)(ci)性材料：鐵氧體(ti)、非晶(jing)體(ti)和其它磁(ci)(ci)性材料的導磁(ci)(ci)率(lv)和損(sun)耗角評估

半導(dao)體(ti)材料(liao)(liao)：半導(dao)體(ti)材料(liao)(liao)的介電常(chang)數、導(dao)電率(lv)和C-V特性

液晶材料：液晶單元的(de)介電常數、彈性常數等C-V特性