產品介紹

GCSTD-D電感器介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電(dian)氣絕緣材料在(zai)工頻(pin)、音(yin)頻(pin)、高頻(pin)（包括米波波長在(zai)內）下(xia)電(dian)容

率和介質損(sun)耗因數(shu)的推(tui)薦(jian)方法(fa)

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數和(he)介質(zhi)損(sun)耗角正切值的測定(ding)方法(fa)

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電絕緣材料的（恒久電介(jie)質）的交(jiao)流(liu)損(sun)耗特性和介(jie)電常數

的測試方法

電感器介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸(chu)法：適用于厚度(du)均勻、上(shang)下表面(mian)平(ping)整、光滑材料

非接觸(chu)法(fa)：適用(yong)于上下表(biao)面不平整、不光滑材料

電(dian)極(ji)(ji)類型：固定(ding)電(dian)極(ji)(ji)-測量(liang)電(dian)極(ji)(ji)φ38mm／φ50mm（標配(pei)電(dian)極(ji)(ji)1套，標配(pei)為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電(dian)極(ji)-根據樣品量可(ke)配專用電(dian)極(ji)

試樣類型：固體、液(ye)體、粉體、膏體／規則物(wu)或者(zhe)不規則物(wu)

性能特點：

測(ce)試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最(zui)高達200次／s的測量速度

320x240點(dian)陣大(da)型(xing)圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源(yuan)至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或(huo)電(dian)流的自動電(dian)平調(diao)整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部(bu)儀器設(she)定可供(gong)儲存(cun)／讀取

內建比較器(qi)，10檔分(fen)選及計(ji)數(shu)功能

多種通訊接口(kou)方(fang)便用戶聯機使用

2m／4m測試電(dian)纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可(ke)通過(guo)USB HOST 自動升級儀器工作程序

測試材料：

無源元件(jian)：電容器、電感(gan)器、磁芯、電阻器、壓電器件(jian)、變(bian)壓器、芯片組件(jian)和網絡元件(jian)

等的(de)陽(yang)抗參數評估和性能分析。

半導體元件：變容二極管(guan)的C-VDC特(te)性；晶體管(guan)或集(ji)成電路的寄生參數分(fen)析

其(qi)它(ta)元(yuan)件：印(yin)制電(dian)(dian)路板、繼(ji)電(dian)(dian)器(qi)、開關、電(dian)(dian)纜、電(dian)(dian)池等的阻抗(kang)評估

介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損(sun)耗角評估

磁(ci)性材料：鐵氧體(ti)、非(fei)晶體(ti)和其(qi)它磁(ci)性材料的導磁(ci)率(lv)和損耗角(jiao)評(ping)估

半(ban)導體材料(liao)：半(ban)導體材料(liao)的介(jie)電常數(shu)、導電率(lv)和(he)C-V特(te)性

液晶材料：液晶單元的(de)介電常(chang)數、彈性(xing)常(chang)數等(deng)C-V特性(xing)