產品介紹

 電阻器高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣(qi)絕緣材料(liao)在工頻、音頻、高(gao)頻（包括米(mi)波波長(chang)在內）下電容

率和介質損耗因(yin)數的推(tui)薦方法

GB／T1693-2007硫(liu)化橡(xiang)膠介電(dian)常數和介質損耗(hao)角正切(qie)值的測定方(fang)法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電(dian)絕緣(yuan)材料的（恒久電(dian)介質）的交流損耗特性和介電(dian)常數

的測試方法

 電阻器高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表(biao)面平整、光滑材料

非接觸(chu)法(fa)：適用于上下表面不平整(zheng)、不光滑材料

電極(ji)類型：固定(ding)電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電極(ji)1套(tao)，標配為38mm）

液體(ti)電(dian)極-液體(ti)容量15ml

粉體電(dian)(dian)極-根據(ju)樣品量可(ke)配專用電(dian)(dian)極

試樣類型：固體、液(ye)體、粉體、膏體／規(gui)則(ze)物或者不規(gui)則(ze)物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測試電(dian)平(ping)10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最(zui)高達200次／s的測量速度

320x240點陣大型圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參(can)數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏(pian)流源至40A（配(pei)置兩臺TH1776）（選(xuan)件）

電(dian)(dian)壓或電(dian)(dian)流的自動電(dian)(dian)平調(diao)整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部儀器設定(ding)可供(gong)儲(chu)存(cun)／讀(du)取

內建比(bi)較器，10檔分(fen)選及(ji)計數功(gong)能

多種通(tong)訊接口方便(bian)用戶聯機使用

2m／4m測(ce)試電(dian)纜擴(kuo)展（選件）

中英文可選操作界面

可通(tong)過USB HOST 自動(dong)升(sheng)級(ji)儀(yi)器工(gong)作程序

測試材料：

無源元件(jian)(jian)(jian)(jian)：電(dian)容(rong)器(qi)(qi)、電(dian)感器(qi)(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)(qi)、壓(ya)電(dian)器(qi)(qi)件(jian)(jian)(jian)(jian)、變(bian)壓(ya)器(qi)(qi)、芯片組件(jian)(jian)(jian)(jian)和網絡元件(jian)(jian)(jian)(jian)

等的陽(yang)抗參數評估(gu)和性(xing)能分析。

半導體元件：變容(rong)二極(ji)管(guan)的C-VDC特性；晶體管(guan)或集成(cheng)電路的寄生參數分析

其(qi)它元件：印(yin)制電(dian)路板(ban)、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估

介(jie)質材料(liao)：塑料(liao)、陶瓷和(he)其它材料(liao)的介(jie)電常數和(he)損耗(hao)角評估

磁(ci)性(xing)材(cai)料：鐵氧(yang)體、非晶體和其它磁(ci)性(xing)材(cai)料的導(dao)磁(ci)率和損耗(hao)角評估(gu)

半(ban)導體(ti)材料：半(ban)導體(ti)材料的介電常數、導電率和C-V特(te)性(xing)

液晶材料：液晶單(dan)元(yuan)的介電(dian)常數、彈性常數等(deng)C-V特性