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產品詳細頁壓電器件介電常數及介質損耗測試儀
- 產品型號:GCSTD-D
- 更新時(shi)間(jian):2023-12-05
- 產品介紹:壓電器件介電常數及介質損耗測試儀是一種先進的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
壓電器件介電常數及介質損耗測試儀
滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工(gong)頻、音頻、高頻(包括(kuo)米波波長在內)下電容
率和介質損耗(hao)因數的推薦方法
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切(qie)值的測定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數
的測試方法
壓電器件介電常數及介質損耗測試儀試驗方法:
接觸法:適用于厚度均(jun)勻(yun)、上下表面平整(zheng)、光滑材料(liao)
非接觸法(fa):適用于(yu)上下(xia)表面不平整(zheng)、不光(guang)滑材料(liao)
電極(ji)類型:固定(ding)電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm/φ50mm(標配電極(ji)1套,標配為38mm)
液體電極-液體容量(liang)15ml
粉(fen)體電極(ji)(ji)-根(gen)據(ju)樣品量可(ke)配專用電極(ji)(ji)
試樣類型:固體(ti)(ti)、液體(ti)(ti)、粉體(ti)(ti)、膏體(ti)(ti)/規(gui)則物(wu)或者不規(gui)則物(wu)
性能特點:
測試(shi)頻率20H2~2MHz,10mHz步進(jin)
測試電平(ping)10mV~5V,1mV步進
基本準確度0.1%
最高(gao)達200次/s的測量(liang)速度
320x240點陣大型圖(tu)形LCD顯示
五位讀數分辨率
可測量22種阻抗(kang)參數組合
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置(zhi)偏(pian)流源至40A(配置(zhi)兩臺TH1776)(選件)
電壓或電流(liu)的自(zi)動電平調(diao)整(zheng)(ALC)功能
V、1測試信號(hao)電(dian)平監視功能
圖形掃描分析功能
20組內部儀器(qi)設(she)定可供儲存/讀取
內建比(bi)較器,10檔(dang)分(fen)選及計數功(gong)能
多種通訊接口(kou)方便用戶聯機使用
2m/4m測(ce)試電纜擴展(選(xuan)件(jian))
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自動升(sheng)級儀器工作程序
測試材料:
無源元件(jian):電(dian)(dian)容器(qi)(qi)、電(dian)(dian)感(gan)器(qi)(qi)、磁芯、電(dian)(dian)阻(zu)器(qi)(qi)、壓電(dian)(dian)器(qi)(qi)件(jian)、變壓器(qi)(qi)、芯片組件(jian)和網絡(luo)元件(jian)
等的陽抗參數(shu)評估和(he)性能分(fen)析。
半導體元件:變容二極管(guan)(guan)的(de)C-VDC特性(xing);晶體管(guan)(guan)或集成電(dian)路的(de)寄生參數(shu)分析
其(qi)它元(yuan)件:印(yin)制電(dian)路板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估
介質材(cai)料:塑料、陶瓷和(he)其它(ta)材(cai)料的介電常數和(he)損耗角評估
磁性材料:鐵氧(yang)體、非晶體和其它磁性材料的導磁率(lv)和損耗(hao)角(jiao)評估
半(ban)導體(ti)(ti)材(cai)料:半(ban)導體(ti)(ti)材(cai)料的介電常數、導電率和C-V特性
液(ye)晶材料:液(ye)晶單元(yuan)的介(jie)電(dian)常數、彈(dan)性常數等C-V特性
- 下一(yi)篇(pian):GCSTD-D電阻器高低頻介電常數測試儀