產品介紹

GCSTD-DGCSTD介電常數及介質損耗測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測(ce)量電氣絕緣材料在(zai)工頻(pin)、音頻(pin)、高(gao)頻(pin)（包(bao)括米波波長在(zai)內(nei)）下電容

率和介質損耗因數的推(tui)薦(jian)方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常(chang)數(shu)和介質損(sun)耗角正(zheng)切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固(gu)體電(dian)絕緣材料的（恒久電(dian)介質）的交流損耗特(te)性和介電(dian)常數(shu)

的測試方法

GCSTD介電常數及介質損耗測試儀試驗方法：

接(jie)觸法(fa)：適用于厚度均勻、上下(xia)表面平整(zheng)、光滑(hua)材料

非(fei)接觸法：適用于上(shang)下表面(mian)不平整、不光滑材(cai)料

電(dian)極(ji)類型：固(gu)定電(dian)極(ji)-測(ce)量電(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配電(dian)極(ji)1套，標配為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容量15ml

粉體電極-根據(ju)樣品量(liang)可配專用電極

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則物或者不規則物

性能特點：

測試頻(pin)率20H2～2MHz，10mHz步(bu)進

測試電平10mV～5V，1mV步(bu)進

基本準確度0.1％

最高達(da)200次／s的測量(liang)速度

320x240點陣大(da)型圖形(xing)LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數(shu)組合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏(pian)流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件(jian)）

電壓(ya)或電流的(de)自動電平調整(zheng)（ALC）功能(neng)

V、1測試(shi)信號電平監視功(gong)能(neng)

圖形掃描分析功能

20組(zu)內部(bu)儀(yi)器設定可供儲存／讀取

內建比較器，10檔分選及(ji)計數功能

多種通訊(xun)接口方便用戶(hu)聯機(ji)使用

2m／4m測試電纜擴展（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工(gong)作程序(xu)

測試材料：

無源元(yuan)件：電(dian)容器(qi)(qi)、電(dian)感器(qi)(qi)、磁芯(xin)、電(dian)阻器(qi)(qi)、壓電(dian)器(qi)(qi)件、變壓器(qi)(qi)、芯(xin)片組件和網絡元(yuan)件

等(deng)的陽(yang)抗參(can)數評估和(he)性(xing)能分析。

半導體(ti)(ti)元(yuan)件：變容二極管的C-VDC特性；晶體(ti)(ti)管或(huo)集成電(dian)路的寄生參數分析

其它元件：印(yin)制電路(lu)板(ban)、繼電器、開(kai)關、電纜、電池等的阻抗評(ping)估(gu)

介(jie)質材(cai)料：塑料、陶瓷和(he)(he)其它材(cai)料的介(jie)電常數和(he)(he)損耗角(jiao)評估

磁性材(cai)料：鐵(tie)氧(yang)體(ti)、非晶體(ti)和(he)其(qi)它磁性材(cai)料的導磁率和(he)損耗(hao)角評估

半(ban)導體(ti)材(cai)料：半(ban)導體(ti)材(cai)料的介電(dian)常數、導電(dian)率(lv)和C-V特(te)性(xing)

液晶材料：液晶單元(yuan)的介電常數、彈性(xing)常數等C-V特性(xing)