產品介紹

產品名稱：導體粉末電阻率測試儀

產品型(xing)號：FTDZ-I

導體粉末電阻率測試儀產品概述：

粉(fen)末(mo)電(dian)阻率試(shi)驗儀主要用(yong)于測(ce)量粉(fen)末(mo)材料電(dian)阻率試(shi)驗的專用(yong)儀器.

由于(yu)粉末材料的(de)密實度(du)不同(tong)(tong),在松裝和振實密度(du)條件下,所測(ce)試得到(dao)的(de)數(shu)據是(shi)不同(tong)(tong)的(de),所以測(ce)試粉末電

阻,要(yao)求在規定(ding)的(de)壓力條件下進行(xing)測試(shi).便于進行(xing)有(you)效數據的(de)測試(shi)及對比.

儀器由主(zhu)機、測試架兩大部分組成。主(zhu)機包括高靈敏(min)的直流(liu)數字(zi)電(dian)壓(ya)表和(he)高穩定的直流(liu)恒流(liu)源測量

試(shi)驗設置(zhi)通過觸摸屏進行(xing)操作和設置(zhi)，頁面布局合理(li)，人(ren)性化(hua)設計(ji)，可對測試(shi)結果進行(xing)打(da)印。

儀器具(ju)有測量精(jing)度高、穩定(ding)性好、結構緊湊、使用方便等(deng)特(te)點，符合國際和國家標準的(de)要求。

儀器適用(yong)于導體粉(fen)末(mo)、半導體粉(fen)末(mo)、炭素材料等行(xing)業，進行(xing)檢測測試設備(bei)。

儀器主要技術指標：

一、測量范圍：

測量半導電(dian)電(dian)阻(zu)率(lv)時： 電(dian)阻(zu)率(lv)10-6—105Ω-cm；分辯(bian)率(lv)10-8Ω-cm

測(ce)量其他（電(dian)線電(dian)纜）電(dian)阻時： 電(dian)阻10-4--2X105Ω，分辨率0.01uΩ

二、 電壓測量：

1．  量(liang)程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測量誤差  2mA檔±(0.5%讀數+8字)；20mV—2V擋±(0.5%讀數+2字)

3．  顯(xian)示(shi)4 1/2 位數(shu)字顯(xian)示(shi)0—19999具有極性和(he)過載(zai)自(zi)動顯(xian)示(shi)，小數(shu)點、單(dan)位自(zi)動顯(xian)示(shi)。

三、 恒流源：

1．  電流輸(shu)出： 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A

2.    電流誤差：±(0.5%讀數+2字(zi))

四、 數據打印：

可對(dui)測(ce)試結(jie)果進行打印，顯示結(jie)果為：體積電(dian)(dian)阻率、電(dian)(dian)阻值(zhi)

五、測量電極：

1、電極材質：銅

2、測(ce)量距離：10MM

六、粉末套筒：

1、內徑：16mm

2、行程：50 mm

七、粉末測試(shi)(shi)專用恒加載裝置及測試(shi)(shi)電極：

1、電極是雙柱型(xing)、立式結構

2、加載機構：步進電極

3、加載(zai)(zai)方式(shi)：自動(dong)加載(zai)(zai)

4、負荷傳(chuan)感器：10KN

5、負荷顯示方(fang)式：力值、壓強

6、負(fu)(fu)荷加載:設定好的負(fu)(fu)荷后,自動加載并恒負(fu)(fu)荷保(bao)持

7、試(shi)驗流程：把(ba)被測(ce)試(shi)樣安裝并固定(ding)好后(hou)，設(she)定(ding)好要加(jia)載的負荷和保持時(shi)間，點擊開(kai)始后(hou)，自動(dong)加(jia)載，到(dao)達(da)(da)設(she)定(ding)的負荷后(hou)自動(dong)停止，到(dao)達(da)(da)設(she)定(ding)的時(shi)間后(hou)，自動(dong)返回初始位。

8、樣品量和電極尺(chi)寸，依據客戶要求協商確定。

9、套筒內經(jing):16MM/30MM\