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電容器薄膜電弱點測試儀DRD

電容器薄膜電弱點測試儀DRD

  • 產品(pin)型號:DRD10KV
  • 更新時(shi)間:2023-12-22
  • 產品(pin)介紹:電容器薄膜電弱點測試儀DRD
    該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點數。
    本儀器方式為微機控制,卷膜移動速度可設定,按照設定的升壓速率升壓,達到設定的電壓后,實時記錄當前的電壓值和電流值,并能夠實時記錄當前的擊穿點,試驗結束后自動歸零,自動統計電弱點數、電弱線數,自動計算每平方米的電弱點數
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

電容器薄膜電弱點測試儀DRD

DRD-10KV

電容器薄膜電弱點測試儀DRD

•產品型號:DRD-10KV

•執行標準:GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣(qi)絕緣用薄膜 第2部分試驗方(fang)法

產品用途:

該儀器主要用于電氣用聚(ju)氨脂薄膜、塑(su)料(liao)薄膜、聚(ju)丙稀薄膜等絕(jue)緣材料(liao)在給定直流電壓(ya)下自動升壓(ya)測定每平(ping)方(fang)米的擊穿(chuan)點數。

本儀器方式為微機控制,卷膜移動(dong)速度可設(she)定,按照設(she)定的(de)(de)升壓(ya)(ya)速率升壓(ya)(ya),達(da)到設(she)定的(de)(de)電壓(ya)(ya)后,實(shi)時(shi)記錄(lu)(lu)當(dang)前的(de)(de)電壓(ya)(ya)值(zhi)和(he)電流值(zhi),并能夠實(shi)時(shi)記錄(lu)(lu)當(dang)前的(de)(de)擊穿點,試(shi)驗(yan)結束后自動(dong)歸零,自動(dong)統計(ji)(ji)電弱點數(shu)(shu)(shu)、電弱線數(shu)(shu)(shu),自動(dong)計(ji)(ji)算每(mei)平方米的(de)(de)電弱點數(shu)(shu)(shu)。

本儀器自動化程(cheng)度高,操作簡單、安(an)裝卷膜方(fang)便、落(luo)地式結構方(fang)便操作。

結構組成:

1、升壓(ya)部件:由調壓(ya)器(qi)和高壓(ya)變壓(ya)器(qi)組成0~10KV的升壓(ya)部分。

2、動 部 件:通過調壓裝置勻速(su)升壓到設定的(de)電(dian)壓值。

3、檢測(ce)部件(jian):由集成電路組成的測(ce)量電路,實時檢測(ce)測(ce)量數據傳(chuan)給計算機。

4、計算(suan)機軟件(jian):通過智能電路(lu)把(ba)由檢(jian)測設(she)備(bei)采集(ji)的測控(kong)信號傳給計算(suan)機。計算(suan)機根據采集(ji)的信息控(kong)制設(she)備(bei)運行并處理試驗結(jie)果(guo)。

5、收卷(juan)放卷(juan):固定(ding)(ding)卷(juan)膜并按照設(she)定(ding)(ding)的速度(du)旋轉運動

設備工作原理:

本測(ce)試(shi)(shi)儀試(shi)(shi)驗電(dian)壓(ya)是0-10KV直流電(dian)壓(ya),其波動(dong)(dong)為(wei)±1%。測(ce)試(shi)(shi)儀在試(shi)(shi)樣(yang)弱點(dian)擊穿后(hou)約0.1s內使電(dian)壓(ya)回升到原來設(she)定的(de)電(dian)壓(ya)。銅輥(gun)為(wei)下電(dian)極,導電(dian)橡膠為(wei)上(shang)電(dian)極。薄膜以(yi)(yi)2m-5m /min的(de)速度(du)移動(dong)(dong),薄膜弱點(dian)時擊穿,擊穿點(dian)自動(dong)(dong)累積計數(shu)。膜移動(dong)(dong)以(yi)(yi)平(ping)方數(shu)自動(dong)(dong)計數(shu)。

優勢特點:

1、操作(zuo)簡單:放卷收卷固定后(hou),點開始自動(dong)測試

2、動態(tai)顯示:在薄(bo)膜(mo)擊穿后,同步動態(tai)顯示曲線(xian),直觀可視

3、安裝方便:把模卷放入氣(qi)漲軸(zhou),通氣(qi)自動固定

4、張(zhang)力可調(diao)(diao):同(tong)能實時調(diao)(diao)節收卷、放卷的(de)張(zhang)力

5、多種模式:測(ce)試面積/測(ce)試長度/測(ce)試時間

6、擊穿點(dian)判定:實時記錄電弱點(dian)與測試長度的(de)數(shu)據,可以統計查(cha)詢電弱點(dian)之間的(de)長度

7、自動(dong)存儲(chu):試驗介紹后(hou)自動(dong)彈窗提示(shi)存儲(chu)數據(ju)

8、智能(neng)(neng)自動:本機智能(neng)(neng)化(hua)、自動化(hua)程度高,無需專業培訓,即可操(cao)作




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