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產品詳細頁(ye)
薄膜電弱點測試檢測儀

薄膜電弱點測試檢測儀

  • 產品型號:DRD10KV
  • 更(geng)新(xin)時間:2023-11-20
  • 產(chan)品介紹:薄膜電弱點測試檢測儀
    該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點數。
    本儀器方式為微機控制,卷膜移動速度可設定,按照設定的升壓速率升壓,達到設定的電壓后,實時記錄當前的電壓值和電流值,并能夠實時記錄當前的擊穿點,試驗結束后自動歸零,自動統計電弱點數、電弱線數,自動計算每平方米的電弱點數
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

薄膜電弱點測試檢測儀

DRD-10KV

薄膜電弱點測試檢測儀

•產品型號:DRD-10KV

•執行(xing)標準(zhun):GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣(yuan)用薄(bo)膜 第2部分(fen)試(shi)驗方(fang)法

產品用途:

該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄(bo)膜(mo)、塑料(liao)薄(bo)膜(mo)、聚丙稀薄(bo)膜(mo)等絕(jue)緣材料(liao)在給定直(zhi)流(liu)電壓(ya)下自動升壓(ya)測定每平方米的擊穿點(dian)數。

本儀(yi)器方式為微機控制,卷膜(mo)移(yi)動(dong)速度可設(she)定(ding),按照(zhao)設(she)定(ding)的升壓(ya)(ya)(ya)速率升壓(ya)(ya)(ya),達到設(she)定(ding)的電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)后,實時記(ji)錄當前的電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)值和電(dian)(dian)流值,并能夠實時記(ji)錄當前的擊穿點,試驗結束后自動(dong)歸零,自動(dong)統計(ji)(ji)電(dian)(dian)弱點數、電(dian)(dian)弱線(xian)數,自動(dong)計(ji)(ji)算每平(ping)方米(mi)的電(dian)(dian)弱點數。

本儀器(qi)自動(dong)化程度高,操作簡單、安(an)裝卷膜方便、落地式結構(gou)方便操作。

結構組成:

1、升(sheng)壓部件:由調壓器(qi)和(he)高壓變壓器(qi)組成(cheng)0~10KV的升(sheng)壓部分(fen)。

2、動 部 件:通過調壓裝置勻速升壓到設定的電(dian)壓值。

3、檢測(ce)部件(jian):由集成電(dian)路組成的測(ce)量電(dian)路,實時(shi)檢測(ce)測(ce)量數據傳給(gei)計算機。

4、計算機軟件(jian):通(tong)過智(zhi)能(neng)電路把由(you)檢測設(she)備采集(ji)的測控(kong)信(xin)號傳給計算機。計算機根(gen)據采集(ji)的信(xin)息控(kong)制(zhi)設(she)備運(yun)行并處理試驗結果。

5、收卷(juan)放卷(juan):固(gu)定(ding)卷(juan)膜并(bing)按(an)照設定(ding)的速度旋轉運動(dong)

設備工作原理:

 本測(ce)試(shi)儀(yi)試(shi)驗電(dian)壓(ya)(ya)是0-10KV直流電(dian)壓(ya)(ya),其(qi)波(bo)動(dong)(dong)為(wei)±1%。測(ce)試(shi)儀(yi)在(zai)試(shi)樣弱點擊(ji)穿(chuan)后約0.1s內使電(dian)壓(ya)(ya)回升到原來設定的電(dian)壓(ya)(ya)。銅輥(gun)為(wei)下電(dian)極,導電(dian)橡膠為(wei)上電(dian)極。薄(bo)膜(mo)以2m-5m /min的速度移動(dong)(dong),薄(bo)膜(mo)弱點時擊(ji)穿(chuan),擊(ji)穿(chuan)點自(zi)動(dong)(dong)累(lei)積計數。膜(mo)移動(dong)(dong)以平方數自(zi)動(dong)(dong)計數。

優勢特點:

1、操作簡單:放卷收卷固定后,點開始自動測試

2、動態顯示(shi):在薄膜擊穿后(hou),同步動態顯示(shi)曲(qu)線,直觀可視

3、安裝方便:把模(mo)卷放入氣(qi)漲軸,通氣(qi)自動固定

4、張力可調(diao):同能實時調(diao)節收卷(juan)、放(fang)卷(juan)的張力

5、多(duo)種模式:測試(shi)(shi)面積/測試(shi)(shi)長度/測試(shi)(shi)時間

6、擊穿(chuan)點(dian)判(pan)定:實時記(ji)錄電弱點(dian)與測(ce)試長(chang)度的數據,可以統計查詢電弱點(dian)之間(jian)的長(chang)度

7、自動存儲:試驗介紹(shao)后(hou)自動彈窗(chuang)提示存儲數據(ju)

8、智能(neng)自動:本機智能(neng)化、自動化程度高,無(wu)需專業培訓(xun),即(ji)可操作


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