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產品詳(xiang)細頁高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD
- 產品型號:GCSTD-A/B
- 更新時間:2023-12-01
- 產品介紹:高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD編號:GD201310250002規格:GCSTD-A高頻測量:10KHZ--50MHZ本產品是依據版本國家標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法。
- 在線留言 010-57223836/57223838
產品介紹
高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD
主要(yao)用(yong)途(tu):主要(yao)用(yong)于(yu)測量非金屬材料(liao)的介電常數(ε)和介質損耗(tanδ)
應(ying)用對(dui)象:該儀(yi)器(qi)用于(yu)科(ke)研(yan)機關、學校、工廠等單位對(dui)無機非(fei)金屬新材料性能的應(ying)用研(yan)究。
滿足標準:
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料(liao)在工頻(pin)(pin)、音頻(pin)(pin)、高(gao)頻(pin)(pin)下電容率和介質損耗因數的(de)推(tui)薦方法
GB/T 5654-2007液體絕緣材(cai)料 相(xiang)對電容率、介質(zhi)損耗因數和(he)直流電阻率的測量
GB/T 21216-2007絕(jue)緣(yuan)液體 測量電導和(he)電容確定介質損(sun)耗因數的試驗方法
GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法(fa)
GB/T 5594.4-1985__電子(zi)元(yuan)器件結構(gou)陶瓷材料(liao)性能測試(shi)方(fang)法介質損耗角正切值的測試(shi)方(fang)法
GBT 1409-2006測量電氣絕緣(yuan)材料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)(包括米波波長(chang)在內)下電容率和介質(zhi)
損耗因數的推薦方法
ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕緣材料(liao)的(de)(恒久電(dian)介質)的(de)交流損耗特性和介電(dian)常(chang)數(shu)的(de)測試(shi)方法(fa)
方法概述:
高頻介電常數及介質損耗測試儀GCSTD是各(ge)種電(dian)瓷、裝置瓷、電(dian)容(rong)(rong)器(qi)等陶瓷,還有復合(he)材料等的(de)(de)(de)(de)一(yi)項重要的(de)(de)(de)(de)物理性(xing)質(zhi),通過測(ce)(ce)(ce)(ce)定介質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)角正切(qie)tanδ及介電(dian)常數(shu)(ε),可進一(yi)步了(le)解影響(xiang)介質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao)和介電(dian)常數(shu)的(de)(de)(de)(de)各(ge)種因素,為(wei)提(ti)高(gao)材料的(de)(de)(de)(de)性(xing)能(neng)提(ti)供依據;儀(yi)(yi)器(qi)的(de)(de)(de)(de)基本原理是采(cai)用(yong)高(gao)頻(pin)諧(xie)振(zhen)法,并提(ti)供了(le),通用(yong)、多用(yong)途、多量(liang)程的(de)(de)(de)(de)阻(zu)(zu)抗測(ce)(ce)(ce)(ce)試。它以單(dan)片計算機作(zuo)為(wei)儀(yi)(yi)器(qi)的(de)(de)(de)(de)控制,測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)核心采(cai)用(yong)了(le)頻(pin)率(lv)數(shu)字鎖定,標準頻(pin)率(lv)測(ce)(ce)(ce)(ce)試點自動(dong)設定,諧(xie)振(zhen)點自動(dong)搜(sou)索,Q值(zhi)(zhi)量(liang)程自動(dong)轉換,數(shu)值(zhi)(zhi)顯示等新技(ji)術,改進了(le)調諧(xie)回路(lu),使得調諧(xie)測(ce)(ce)(ce)(ce)試回路(lu)的(de)(de)(de)(de)殘余電(dian)感減至(zhi),并保(bao)留了(le)原Q表(biao)中自動(dong)穩幅等技(ji)術,使得新儀(yi)(yi)器(qi)在(zai)使用(yong)時更(geng)為(wei)方便,測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)值(zhi)(zhi)更(geng)為(wei)精確。儀(yi)(yi)器(qi)能(neng)在(zai)較高(gao)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試頻(pin)率(lv)條件下(xia),測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)高(gao)頻(pin)電(dian)感或(huo)諧(xie)振(zhen)回路(lu)的(de)(de)(de)(de)Q值(zhi)(zhi),電(dian)感器(qi)的(de)(de)(de)(de)電(dian)感量(liang)和分(fen)布電(dian)容(rong)(rong)量(liang),電(dian)容(rong)(rong)器(qi)的(de)(de)(de)(de)電(dian)容(rong)(rong)量(liang)和損(sun)耗(hao)(hao)角正切(qie)值(zhi)(zhi),電(dian)工材料的(de)(de)(de)(de)高(gao)頻(pin)介質(zhi)損(sun)耗(hao)(hao),高(gao)頻(pin)回路(lu)有效并聯及串聯電(dian)阻(zu)(zu),傳輸線的(de)(de)(de)(de)特(te)性(xing)阻(zu)(zu)抗等。
備注說明:
三種(zhong)不(bu)同型(xing)號(hao)的儀器,主要(yao)區別(bie)是頻(pin)(pin)率(lv)(lv)不(bu)同,根據(ju)自(zi)己測試頻(pin)(pin)率(lv)(lv),選擇(ze)合(he)適的型(xing)號(hao)
電極規格
固體:材(cai)料測量直(zhi)徑Φ38mm 可(ke)選;厚(hou)度可(ke)調 ≥ 15mm
液(ye)(ye)體(ti):測(ce)量極片直徑(jing)Φ38mm; 液(ye)(ye)體(ti)杯內徑(jing)Φ48mm 、深7mm(選配(pei))
粉體:測量極片直(zhi)徑Φ38mm; 液體杯內徑Φ48mm 、深(shen)7mm(選配(pei))
試(shi)樣(yang)要求:固體樣(yang)品厚度要求:0.5-15MM
產品配置:
1、測試主機:一臺
2、測試電感:9個
3、測(ce)試(shi)夾(jia)具:1套(標(biao)配固(gu)體測(ce)試(shi)夾(jia)具一套)
其它規格:
1、環境溫度:0℃~+40℃;
2、相(xiang)對濕度:<80%;
3、電源(yuan):220V±22V,50Hz±2.5Hz。
4、消耗功率:約25W;
5、凈重(zhong):約7kg;
6、外型(xing)尺寸:(長寬高(gao)):380×280×132(mm)
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