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產品詳細頁
智能薄膜電弱點測試儀DRD

智能薄膜電弱點測試儀DRD

  • 產品型(xing)號(hao):DRD-10KV
  • 更新時間(jian):2023-12-22
  • 產(chan)品介紹(shao):智能薄膜電弱點測試儀DRD是根據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點數。本機采用計算機控制,可對試驗過程中的各種數據進行快速、準確的采集、處理,并可存取、顯示、打印.
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹

智能薄膜電弱點測試儀DRD

DRD-10KV

智能薄膜電弱點測試儀DRD

•產品型號:DRD-10KV

•執行標準:GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電(dian)氣絕緣(yuan)用(yong)薄膜 第2部分試驗方法

產品用途:

該儀器(qi)主(zhu)要用于(yu)電氣用聚氨脂薄(bo)膜(mo)、塑料(liao)薄(bo)膜(mo)、聚丙稀薄(bo)膜(mo)等絕緣(yuan)材料(liao)在給定直流電壓下自動升壓測定每平(ping)方(fang)米的擊穿(chuan)點數。

本(ben)儀(yi)器方(fang)式為微機控制,卷膜移動(dong)速度可設(she)定(ding),按照設(she)定(ding)的(de)升壓(ya)速率升壓(ya),達到設(she)定(ding)的(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)后,實時記(ji)錄(lu)當(dang)前的(de)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)值和電(dian)(dian)(dian)流值,并能夠實時記(ji)錄(lu)當(dang)前的(de)擊穿點(dian),試(shi)驗(yan)結束后自(zi)動(dong)歸零(ling),自(zi)動(dong)統計(ji)電(dian)(dian)(dian)弱點(dian)數(shu)、電(dian)(dian)(dian)弱線(xian)數(shu),自(zi)動(dong)計(ji)算每平(ping)方(fang)米的(de)電(dian)(dian)(dian)弱點(dian)數(shu)。

本(ben)儀器自動化程度高,操作(zuo)簡單、安(an)裝卷(juan)膜(mo)方便、落(luo)地式結(jie)構(gou)方便操作(zuo)。

結構組成:

1、升壓(ya)部(bu)件:由調(diao)壓(ya)器(qi)和高壓(ya)變(bian)壓(ya)器(qi)組成0~10KV的升壓(ya)部(bu)分。

2、動 部 件:通(tong)過調(diao)壓裝置勻(yun)速升壓到設定的電(dian)壓值(zhi)。

3、檢測(ce)(ce)部件(jian):由集成電路(lu)組成的測(ce)(ce)量(liang)電路(lu),實時檢測(ce)(ce)測(ce)(ce)量(liang)數據(ju)傳給計算(suan)機。

4、計(ji)算機(ji)軟件:通(tong)過智(zhi)能電路把(ba)由檢測設(she)備采(cai)(cai)集的(de)測控信(xin)號傳(chuan)給(gei)計(ji)算機(ji)。計(ji)算機(ji)根據采(cai)(cai)集的(de)信(xin)息控制設(she)備運行并處理試驗結果。

5、收卷(juan)放卷(juan):固定卷(juan)膜(mo)并按照設定的速度(du)旋(xuan)轉運動

設備工作原理:

本測試儀試驗電壓是0-10KV直流電壓,其波動為±1%。測試儀在試樣弱點擊穿后約0.1s內(nei)使(shi)電壓回升到原(yuan)來設定的電壓。銅(tong)輥(gun)為下電極(ji),導電橡膠(jiao)為上電極(ji)。薄(bo)膜(mo)以(yi)2m-5m /min的速度(du)移(yi)動,薄(bo)膜(mo)弱點時擊穿,擊穿點自(zi)動累積(ji)計數。膜(mo)移(yi)動以(yi)平方(fang)數自(zi)動計數。

優勢特點:

1、操(cao)作簡單:放(fang)卷收卷固定后,點(dian)開始自動測試

2、動(dong)態(tai)顯示(shi):在薄(bo)膜擊穿后(hou),同(tong)步動(dong)態(tai)顯示(shi)曲線,直觀可(ke)視

3、安裝方便:把模卷(juan)放入氣漲軸,通氣自動固定(ding)

4、張力(li)可調:同能實時調節收卷、放卷的張力(li)

5、多種模式:測試(shi)面積/測試(shi)長(chang)度/測試(shi)時間

6、擊穿點(dian)判(pan)定(ding):實(shi)時記錄電(dian)弱點(dian)與(yu)測試長度的數(shu)據,可(ke)以(yi)統計查詢電(dian)弱點(dian)之間(jian)的長度

7、自(zi)(zi)動存儲:試驗介紹(shao)后自(zi)(zi)動彈窗提示存儲數據

8、智能(neng)自(zi)動:本機(ji)智能(neng)化(hua)、自(zi)動化(hua)程(cheng)度(du)高(gao),無需專業培(pei)訓,即(ji)可(ke)操作




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