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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳細頁(ye)
介電常數測試儀GCSTD

介電常數測試儀GCSTD

  • 產品型號(hao):GCSTD-D
  • 更(geng)新時間:2023-11-18
  • 產(chan)品介紹(shao):介電常數測試儀GCSTD是一種先進的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗和電容容量。
  • 在線留言 010-57223836/57223838

產品介紹


GCSTD-D介電常數測試儀GCSTD

滿足標準:

GBT 1409-2006測量電氣(qi)絕緣(yuan)材料在工(gong)頻、音頻、高頻(包括米(mi)波波長在內)下(xia)電容

率和(he)介質損耗(hao)因數的推薦方法

GB/T1693-2007硫化橡膠介(jie)(jie)電常(chang)數(shu)和介(jie)(jie)質(zhi)損耗角正切(qie)值(zhi)的(de)測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體(ti)電(dian)絕(jue)緣材料(liao)的(de)(恒(heng)久(jiu)電(dian)介(jie)質)的(de)交流損耗(hao)特性和(he)介(jie)電(dian)常數

的測試方法(fa)


介電常數測試儀GCSTD試驗方法:

接觸法:適用于厚度均勻、上下(xia)表面平整(zheng)、光滑材料

非接觸(chu)法(fa):適(shi)用于上下表面(mian)不平整、不光滑材料

電極(ji)(ji)類型:固定電極(ji)(ji)-測量(liang)電極(ji)(ji)φ38mm/φ50mm(標配電極(ji)(ji)1套,標配為38mm)

液(ye)體電極-液(ye)體容量(liang)15ml

粉體電極-根據樣品量可配專用(yong)電極

試樣類型:固(gu)體(ti)、液體(ti)、粉體(ti)、膏體(ti)/規則物或(huo)者不規則物


性(xing)能(neng)特點:

測試頻(pin)率20H2~2MHz,10mHz步(bu)進(jin)

測試電平(ping)10mV~5V,1mV步進

基本準確度0.1%

最高達200次/s的測量速度(du)

320x240點陣大(da)型圖(tu)形LCD顯示

五位讀數分辨率

可(ke)測量22種阻(zu)抗參數組合

四種信(xin)號源輸出阻(zu)抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流(liu)偏置源(yuan)

外(wai)置偏流(liu)源至40A(配置兩臺TH1776)(選(xuan)件)

電壓或(huo)電流的自動電平調整(ALC)功能

V、1測試信號電(dian)平(ping)監(jian)視功能

圖(tu)形掃描分析功能(neng)

20組內部(bu)儀器設定可供儲存/讀取

內建(jian)比較器(qi),10檔分(fen)選(xuan)及計數功能

多(duo)種(zhong)通訊接口方(fang)便用(yong)戶聯(lian)機(ji)使用(yong)

2m/4m測(ce)試電纜擴(kuo)展(選件)

中英文(wen)可選操作界面(mian)

可通過USB HOST 自(zi)動升(sheng)級儀(yi)器工(gong)作(zuo)程(cheng)序


測試材料:

無源元(yuan)件(jian):電(dian)容器(qi)、電(dian)感(gan)器(qi)、磁(ci)芯、電(dian)阻(zu)器(qi)、壓電(dian)器(qi)件(jian)、變壓器(qi)、芯片組件(jian)和(he)網絡(luo)元(yuan)件(jian)

等的(de)陽抗參數(shu)評(ping)估(gu)和性能分析。

半導(dao)體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成(cheng)電路的寄生(sheng)參數(shu)分(fen)析

其它元件:印制(zhi)電(dian)路板(ban)、繼電(dian)器(qi)、開關、電(dian)纜、電(dian)池等的阻抗評估

介(jie)(jie)質材料(liao):塑料(liao)、陶瓷和(he)其(qi)它(ta)材料(liao)的介(jie)(jie)電常(chang)數和(he)損耗角評估

磁性材(cai)料(liao):鐵(tie)氧體、非(fei)晶體和其它磁性材(cai)料(liao)的導磁率和損耗角評估

半(ban)導(dao)體材料(liao):半(ban)導(dao)體材料(liao)的介(jie)電常數、導(dao)電率和C-V特性

液晶(jing)材料:液晶(jing)單元的介電常數(shu)、彈性常數(shu)等C-V特性



 

 

 

 

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