產品介紹

GCSTD-D 高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量(liang)電(dian)(dian)氣(qi)絕緣材料(liao)在工頻、音頻、高頻（包括米(mi)波波長在內）下電(dian)(dian)容

率(lv)和介質損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介(jie)電(dian)常(chang)數和介(jie)質損耗角正切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電(dian)絕緣材料的（恒(heng)久電(dian)介(jie)質）的交(jiao)流損耗特(te)性(xing)和(he)介(jie)電(dian)常數

的測試方法

高低頻介電常數測試儀試驗方法：

接觸法：適用(yong)于厚度均(jun)勻、上下表面平(ping)整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電(dian)極類型：固定電(dian)極-測(ce)量電(dian)極φ38mm／φ50mm（標(biao)配電(dian)極1套，標(biao)配為38mm）

液體(ti)電極-液體(ti)容量15ml

粉(fen)體電極(ji)-根(gen)據樣品量可(ke)配專用電極(ji)

試樣類型：固體(ti)(ti)、液體(ti)(ti)、粉(fen)體(ti)(ti)、膏體(ti)(ti)／規則物(wu)或者(zhe)不規則物(wu)

性能特點：

測(ce)試(shi)頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最(zui)高(gao)達200次／s的測量速度

320x240點(dian)陣大型圖形LCD顯示(shi)

五位讀數分辨率

可測量22種(zhong)阻(zu)抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺(tai)TH1776）（選件(jian)）

電(dian)壓或電(dian)流的自(zi)動電(dian)平調整(zheng)（ALC）功能

V、1測試信號(hao)電平(ping)監視(shi)功能

圖形掃描分析功能

20組(zu)內部儀器(qi)設(she)定可供儲存／讀(du)取

內(nei)建比較器，10檔分選及計數(shu)功能

多(duo)種通訊接口方便用戶聯機使用

2m／4m測試(shi)電纜擴展（選件(jian)）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序

測試材料：

無源元件(jian)：電容器(qi)、電感器(qi)、磁芯、電阻器(qi)、壓電器(qi)件(jian)、變(bian)壓器(qi)、芯片(pian)組件(jian)和網絡元件(jian)

等(deng)的陽抗參數評估和性(xing)能分析(xi)。

半導體(ti)元件(jian)：變容(rong)二極管的C-VDC特性；晶體(ti)管或(huo)集(ji)成(cheng)電路的寄生參(can)數(shu)分析(xi)

其它(ta)元件：印(yin)制電(dian)路板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池(chi)等的阻抗評估

介質(zhi)材(cai)料：塑料、陶(tao)瓷和其它材(cai)料的介電常(chang)數和損耗角評估

磁性(xing)材(cai)料：鐵氧體、非晶(jing)體和其它磁性(xing)材(cai)料的導磁率和損(sun)耗角(jiao)評估

半導(dao)體材料：半導(dao)體材料的介電常數(shu)、導(dao)電率和C-V特(te)性

液晶(jing)材料：液晶(jing)單(dan)元(yuan)的介(jie)電常數、彈(dan)性(xing)常數等C-V特性(xing)