產品介紹

陶瓷高低頻介電常數測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料(liao)在工頻、音頻、高(gao)頻（包括米波(bo)波(bo)長在內(nei)）下電容率(lv)和介(jie)質損耗(hao)因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測(ce)定方(fang)法

ASTM D150/IEC 60250固體電(dian)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的(恒久電(dian)介(jie)質(zhi))的交流損耗特性和(he)介(jie)電(dian)常數的測試方(fang)法(fa)

二、陶瓷高低頻介電常數測試儀技術要求：

接觸法(fa)：適用(yong)于厚度均勻、上下表(biao)面平整、光滑材料

電極(ji)類(lei)型(xing)：固定電極(ji)-測量電極(ji)φ38mm

測(ce)試(shi)頻率(lv)：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試(shi)頻率可以掃描進行測試(shi)

*2、測試頻率可(ke)以(yi)單點測試

*3、測試頻(pin)率可以(yi)多頻(pin)設置測試

4、測試速度模式(shi)：快速、中速、慢速

5、測試數據與曲線顯(xian)示：

*6、電阻率(lv)—測試頻率(lv)

*7、絕對介(jie)電常(chang)數(shu)--測(ce)試頻率

*8、相對介電常(chang)數--測試頻率

*9、相(xiang)對介(jie)電常(chang)數虛部--測試頻率(lv)

*10、相對(dui)介電常數實部--測試頻率

*11、介質損耗--測(ce)試頻率

*12、電容值--測(ce)試(shi)頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢(man)速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點頻(pin)、掃頻(pin)清(qing)零，負載校準

等效方式 串聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內(nei)部, 手動(dong), 外(wai)部, 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步(bu)進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及計數功能

顯示器 320×240點(dian)陣圖形LCD顯示(shi)

存儲器 可保存20組(zu)儀器設定值(zhi)

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）