產品介紹

滿足標準：

GB1410固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法

ASTM D257絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法

一、適用范圍及功能：

表面電阻率測試儀器既可測量高電阻，又可測微電流,可同時測量體積電阻率和表面電阻率。采用了美國In公司的大規模集成電路以及我所的技術,使儀器體積小、重量輕、準確度高。以雙3.1/2 位數字直接顯示電阻的高阻計和電流。是目前國內測量范圍zui寬，準確度zui高的數字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4～1×10-16Ａ。機內測試電壓為10/50/100/250/500/1000V任意可調。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便，適用于防靜電產品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器除能測電阻外，還能直接測量微弱電流。

二、型號：

       GEST121

三、技術指標：

1.電阻測量范圍： 0.01×10^{4Ω ～1×1018Ω。}

2.電流測量范圍為: 2×10^-4A～1×10^-16A

3.雙表頭顯示(shi): 3.1/2位LED顯示(shi)

4.內置測(ce)試電壓：10V、50V、100V、250、500、1000V

5.基本準確度：1% ^（*注）

6 使用環境: 溫度：0℃～40℃，相對濕(shi)度<80%

7 機內測(ce)試電壓: 10/50/100/250/500/1000V 任意(yi)切換

8.供(gong)電(dian)形(xing)式: AC 220V，50HZ，功耗約(yue)5W

9.儀器尺寸: 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10.質量: 約2.5KG

四、主要特點：

電阻測量范圍寬 0.01×10⁴Ω ～1×10¹⁸ Ω

電流測量范圍為 2×10^-4Ａ ～1×10^-16Ａ

體積小、重量輕、準確度高

電(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)流雙顯(xian)示

性能(neng)好穩定、讀數(shu)方便

所有測試電壓（10/50/100/250/500/1000V）測試時電阻結果直讀，免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數等使用不便的麻煩，    使測量超高電阻就如用萬用表測量普通電阻樣簡便。

表面電阻率測試儀器既能測超高電阻又能測微電流

適用(yong)范圍廣:適用(yong)于防(fang)(fang)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)產(chan)品(pin)如防(fang)(fang)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)鞋、防(fang)(fang)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)塑料橡(xiang)膠制品(pin)、計算(suan)機房防(fang)(fang)靜(jing)(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)活動(dong)地板等電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)值的(de)檢驗和(he)電(dian)(dian)(dian)(dian)子電(dian)(dian)(dian)(dian)器產(chan)品(pin)的(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)測(ce)量

五、工作原理：

根據歐姆定律，被測(ce)(ce)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)Rx等于(yu)施加電(dian)(dian)壓(ya)V除以通過(guo)的(de)電(dian)(dian)流(liu)I。傳(chuan)統(tong)的(de)高阻(zu)(zu)計的(de)工作原理是(shi)(shi)(shi)測(ce)(ce)量電(dian)(dian)壓(ya)V固定，通過(guo)測(ce)(ce)量流(liu)過(guo)取樣電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)電(dian)(dian)流(liu)I來得到電(dian)(dian)阻(zu)(zu)值。從歐姆定律可以看出，由(you)于(yu)電(dian)(dian)流(liu)I是(shi)(shi)(shi)與電(dian)(dian)阻(zu)(zu)成反(fan)比，而不(bu)是(shi)(shi)(shi)成正比，所(suo)以電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)顯示值是(shi)(shi)(shi)非線性的(de)，即電(dian)(dian)阻(zu)(zu)無窮大時(shi)(shi)，電(dian)(dian)流(liu)為(wei)零，即表頭的(de)零位處(chu)是(shi)(shi)(shi)∞，其附近的(de)刻(ke)度非常密，分辨(bian)(bian)率(lv)很低。整(zheng)個(ge)刻(ke)度是(shi)(shi)(shi)非線性的(de)。又由(you)于(yu)測(ce)(ce)量不(bu)同的(de)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)時(shi)(shi)，其電(dian)(dian)壓(ya)V也會有些變(bian)化，所(suo)以普通的(de)高阻(zu)(zu)計是(shi)(shi)(shi)精度差、分辨(bian)(bian)率(lv)低。

EST121型數字高(gao)阻(zu)(zu)計(ji)是(shi)同時測(ce)(ce)出電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)兩端的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)V和流(liu)過(guo)(guo)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)I，通過(guo)(guo)內部的(de)(de)大(da)規模集成電(dian)(dian)(dian)(dian)路完(wan)成電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)除以(yi)(yi)(yi)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)計(ji)算，然后把所(suo)得到的(de)(de)結(jie)(jie)果(guo)經過(guo)(guo)A/D轉換后以(yi)(yi)(yi)數字顯示出電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)值，即便是(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)兩端的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)V和流(liu)過(guo)(guo)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)I是(shi)同時變(bian)(bian)化，其(qi)顯示的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)值不(bu)象普通高(gao)阻(zu)(zu)計(ji)那樣因被(bei)測(ce)(ce)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)V的(de)(de)變(bian)(bian)化或(huo)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)Ｉ的(de)(de)變(bian)(bian)化而變(bian)(bian)，所(suo)以(yi)(yi)(yi)，即使測(ce)(ce)量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)、被(bei)測(ce)(ce)量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)(dian)(dian)(dian)源電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)等(deng)發生變(bian)(bian)化對其(qi)結(jie)(jie)果(guo)影(ying)響不(bu)大(da)，其(qi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)精(jing)度很高(gao)，從理論上講其(qi)誤差(cha)可以(yi)(yi)(yi)做(zuo)到零，而實際誤差(cha)可以(yi)(yi)(yi)做(zuo)到千(qian)分(fen)之(zhi)幾或(huo)萬分(fen)之(zhi)幾。